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LTCC六面外觀檢測設備
1.系統採用高速送料機構，實現快速投入。
2、整合高性能運動控制模組，確保精度。
3.即時數據採集系統，資訊採集迅速。
4. 配合高速處理單元，快速整理分析資料。
- unitecho
- 中國
- 30天
- 1500
- 信息
LTCC六面外觀偵測設備規格書
| 設備速度 | ||||
|---|---|---|---|---|
| 英制尺寸 | 0402 | 0603 | 0805 | 1206 |
| (個/分鐘)R | 5500 | 4000 | 2500 | 2000 |
| 設備技術參數表 | |
|---|---|
| 檢測元件 | 低溫共燒陶瓷 |
| 檢測尺寸 | 英制0402、0603、0805、1206等 |
| 測試項目 | 電極尺寸、瓷體尺寸、破損、缺失、髒污、變色、裂痕、異常Mark點等 |
| 檢測站 | 6面檢測 |
| 檢測分選 | 4個bin（可自訂）OK*1、NG*2、未偵測到*1 |
| CCD | 40 萬像素、USB3.0 視覺、彩色*6、Sony CMOS |
| 照明 | 高亮度雙色雙通道 |
| 解決 | 2.3 μm像素，3.45 μm像素，4.6 μm像素，6.9 μm像素 |
| 速度 | 最大290fps |
LTCC（層壓薄膜晶片）六面外觀檢測設備特點
LTCC（層壓薄膜晶片）六面外觀檢測設備是專為精密檢測多層陶瓷晶片封裝而設計的尖端設備。主要性能特徵包括：
高解析度成像：該系統配備高解析度相機，可捕捉微小細節，可偵測所有六個側面的刮痕、分層或錯位等缺陷。
自動化檢測：設備利用先進的演算法，簡化檢測流程，減少人為錯誤，提高批量生產線的效率。
智慧分選：能夠即時分析，根據檢測結果對零件進行分類，將不良品與良品分開，以實現高效率的品質控制。
靈活性：此機器可適應各種 LTCC 設計，確保對不同封裝類型進行一致的檢測，滿足不同的產業需求。
環境控制：系統保持嚴格的溫度和濕度控制，確保一致的偵測條件，並最大限度地減少環境對測試結果的影響。
資料完整性：與工廠管理系統集成，提供詳細的檢查報告和統計分析，促進可追溯性和持續改進。
LTCC 六面外觀偵測設備提供準確、高效、可靠的偵測能力，使製造商能夠維持半導體製造的最高標準。
缺陷檢測案例
LTCC六面外觀檢測設備
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