首頁
>

在不斷追求製造完美的過程中，半導體晶圓上的一絲微米級刮痕，或電池單元上一絲細微的裂紋，都可能引發災難性的故障。傳統的人工檢測，受限於生理限制和主觀判斷，難以適應當今奈米級的生產公差。而這正是人工智慧驅動的視覺檢測系統應運而生，成為終極品質守護者——它將光學精度與演算法智慧結合，實現了曾經被認為不可能實現的目標。

2025/07/28

Unitecho 獲得兩項專利，推動光學分選技術創新

Unitecho在光學分選技術上取得重大突破，獲得兩項國家專利。根據國家智慧財產局資訊顯示，該等專利包括「多功能光學分選工作站」（授權號：CN222402392U）及「具有自動物料對中結構的光學影像分選機」（授權號：CN222402365U），分別於2024年4月和5月提交申請。

2025/04/26

獲取最新價格？我們會盡快回复（12小時內）

姓名 : This field is required

電話 : This field is required

*電子郵件 : Required and valid email address

公司 : This field is required

*信息 : This field is required

隱私政策

新聞